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    JESD22環境可靠性測試標準

    日期:2017-04-17瀏覽:23630次

    JESD22環境可靠性測試標準主要功能包括術語、定義、產品特征描述與操作、測試方法、生產支持功能、產品質量與可靠性、機械外形、固態存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別(RFID)標簽等的確定與標準化。

    標準編號

    JESD22-A100C:2007

    標準名稱

    濕熱循環偏壓壽命試驗

    試驗目的

    評估非固態封裝產品在溫度循環、高濕、偏壓及結露環境下。產品抗腐蝕和耐須晶生長性能。

    試驗方法/條件

    ramp time 2h~4h;storage 4h~8h;30~65℃,90%~98%RH

    嚴酷等級

    默認除非特例

    時間

    1008(-24,+168)h

    匹配設備

    ESPEC的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等

    設備要求

    可編程交替溫濕度變化

     

     

    標準編號

    JESD22-A102D:2010

    標準名稱

    高加速蒸煮試驗

    試驗目的

    這個測試方法主要適用于抗濕熱的健壯性測試,通過高溫高壓飽和濕氣環境,引發分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結構變化的考量。

    試驗方法/條件

    121±2℃,100%RH,205KPa

    嚴酷等級

    Condition A~F

    時間

    24(0,+2)h;48(0,+2)h;96(0,+5)h;168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h

    匹配設備

    EHS-211、EHS-411

    設備要求

    高壓蒸煮設備

     

     

    標準編號

    JESD22-A103D:2010

    標準名稱

    高溫儲存壽命試驗

    試驗目的

    高溫存儲測試通常用于確定時間和
    溫度對產品的影響。

    試驗方法/條件

    125(0,+10)℃;150(0,+10)℃;175(0,+10)℃;200(0,+10)℃;250(0,+10)℃;300(0,+10)℃;

    嚴酷等級

    Condition A~F

    時間

    Condition B  1000h or specifying in accordance with JESD47

    匹配設備

    ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

    設備要求

    試驗過程能穩定控溫

     

     

    標準編號

    JESD22-A104D:2009

    標準名稱

    溫度循環

    試驗目的

    本實驗用來確定組件、互聯器件對交替溫度極限變化產生的機械應力的耐受性。

    試驗方法/條件

    -55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)       

    嚴酷等級

    Condition A~N

    時間

    500~1000h根據具體條件

    匹配設備

    TCC、Global-N系列

    設備要求

    較高的溫變速率

     

     

    標準編號

    JESD22-A105C:2004

    標準名稱

    上電和溫度循環

    試驗目的

    適用于半導體器件,在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓,用于模擬樣件所遭受的zui惡劣環境

    試驗方法/條件

    -40(+0,-10)℃~+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
    -40(+0,-10)℃~+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
    power on/off 5min

    嚴酷等級

    Typical condition A~B 

    時間

    10 minutes at each extreme temperature 

    匹配設備

    J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列

    設備要求

    具有可編程控制能達到的溫度變化數率

     

     

    標準編號

    JESD22-A106B:2004

    標準名稱

    熱沖擊

    試驗目的

    這個測試是為了確認樣品暴露于溫度變化的抵抗力和造成的影響。

    試驗方法/條件

    85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃  TT less than 20s

    嚴酷等級

    Condition A~D

    時間

    協議商定

    匹配設備

    TSB

    設備要求

    液體導熱媒介

     

     

    標準編號

    JESD22-A107B:2004

    標準名稱

    鹽霧實驗

    試驗目的

    用來確定固態器件抵抗鹽霧腐蝕能力

    試驗方法/條件

    35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時,pH 6.0~7.5.  

    嚴酷等級

    Condition A~D

    時間

    24h;48h;96h;240h.

    匹配設備

    板橋理化的SQ系列

    設備要求

    適合完成中性鹽霧條件的試驗箱

     

     

    標準編號

    JESD22-A108D:2010

    標準名稱

    高溫環境條件下的工作壽命試驗

    試驗目的

    這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關故障。

    試驗方法/條件

    125℃/-10℃

    嚴酷等級

    由測試時間決定

    時間

    168h;336h;504h或另外商定

    匹配設備

    ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等

    設備要求

    樣品在通電狀態下溫箱溫差控制在5攝氏度內

     

     

    標準編號

    JESD22-A110D

    標準名稱

    高加速壽命試驗

    試驗目的

    高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態器件在潮濕及電偏壓的環境中的可靠性。

    試驗方法/條件

    130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power

    嚴酷等級

    由所選溫度點決定

    時間

    96h;264h

    匹配設備

    EHS-211、EHS-411

    設備要求

    能夠達到的溫濕度條件,并且具備給試樣施加電偏壓的結構

     

     

    標準編號

    JESD22-A118A:2011

    標準名稱

    不上電的高加速濕氣滲透試驗

    試驗目的

    高加速溫濕度應力試驗是為評估非氣密性固態設備器件在潮濕的環境中的可靠性。

    試驗方法/條件

    130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;

    嚴酷等級

    由所選溫度點決定

    時間

    96h;264h

    匹配設備

    EHS-211、EHS-411

    設備要求

    能夠達到的溫濕度條件

     

     

    標準編號

    JESD22-B103B:2002

    標準名稱

    振動和掃頻試驗

    試驗目的

    這個測試是評估電氣設備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運動的結果    運輸或野外作業產生的。

    試驗方法/條件

    正弦掃頻實驗、隨機振動試驗

    嚴酷等級

    正弦掃頻實驗分8個等級;隨機振動試驗從試驗等級A~I

    時間

    正弦1decade/min掃過等級的規定的頻率范圍,4次每個軸,3個軸;隨機每個軸30分鐘,3個軸

    匹配設備

    DC-3200-36

    設備要求

    電磁振動臺

     

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