基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱(chēng)：德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter靜電場(chǎng)測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：EFM-122

更新時(shí)間：2025-03-09

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter EFM-122靜電場(chǎng)測(cè)試儀Electrostatic Field Meter 122一款小巧輕便手持式數(shù)顯靜電場(chǎng)測(cè)試儀，可在不同的距離非接觸地精確測(cè)量物體表面靜電壓，測(cè)量范圍：0V~+/-200kV。

產(chǎn)品特性Product characteristics

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德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter EFM-122靜電場(chǎng)測(cè)試儀Electrostatic Field Meter 122產(chǎn)品描述 
EFM-122 是一款小巧輕便手持式數(shù)顯靜電場(chǎng)測(cè)試儀，可在不同的距離非接觸地精確測(cè)量物體表面靜電壓，測(cè)量范圍：0V~+/-200kV。 
手持圓柱體探測(cè)頭和測(cè)試表通過(guò)電纜線連接，可方便地測(cè)量狹小空間的靜電場(chǎng)，也可采用選配的3腳架來(lái)固定探頭，用于長(zhǎng)時(shí)間固定監(jiān)測(cè)。 
 
EFM-122所有部件不含放射性物質(zhì)！ 
 
德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter EFM-122靜電場(chǎng)測(cè)試儀Electrostatic Field Meter 122產(chǎn)品特性 
EFM-122測(cè)試表外殼為EMV材料 
儀器自動(dòng)把場(chǎng)強(qiáng)（V/m）轉(zhuǎn)換為靜電壓V 
2行LCD顯示，*行顯示測(cè)試距離，第二行顯示測(cè)試值 
單鍵操作，非常簡(jiǎn)單 
預(yù)設(shè)測(cè)試距離：1cm、2.5cm、5cm、10cm、20cm 
產(chǎn)品尺寸： 
測(cè)試表：70 x 122 x 25mm； 
圓柱體探測(cè)頭：d36 x 136mm 
連接線：550mm(未伸展)；2500mm(*伸展) 
產(chǎn)品重量：測(cè)試表：130g；圓柱體探測(cè)頭：190g 
內(nèi)置9V可充電池，電源適配器/充電器220VAC-12VDC 
 
測(cè)試距離  測(cè)試范圍  分辨率 
1 cm  0~+/-10 kV  1 V 
2.5 cm  0~+/-20 kV  2 V 
5 cm  0~+/-50 kV  10 V 
10 cm  0~+/-100 kV  10 V 
20 cm  0~+/-200 kV  20 V 

德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter EFM-122靜電場(chǎng)測(cè)試儀Electrostatic Field Meter 122產(chǎn)品配置 
打開(kāi)包裝，有以下物品： 
測(cè)試表：        1個(gè) 
圓柱體探測(cè)頭：     1個(gè)（連接在測(cè)試表上） 
9V NiMH可充電池：     1個(gè) 
12V DC電源適配器/充電器：   1個(gè) 
接地線：        1條 
RS232數(shù)據(jù)線       1條 
產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)：       1份 
產(chǎn)品校正書(shū)：       1份 
導(dǎo)靜電手提箱：     1個(gè) 
選配：三腳支撐架（用于固定圓柱體探測(cè)頭） 
 
德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter EFM-122靜電場(chǎng)測(cè)試儀Electrostatic Field Meter 122產(chǎn)品維護(hù)  
通常情況下，儀器不需清零。使用較長(zhǎng)時(shí)間后，屏幕可能不顯示U=000。這時(shí)用保護(hù)蓋罩住探頭，用螺絲刀伸入圓柱體探頭后端上的小孔，持續(xù)頂住清零鍵直至屏幕顯示為零（有可能小數(shù)點(diǎn)后數(shù)值不為0，該誤差可以忽略不計(jì)）。 
 
長(zhǎng)時(shí)間使用后，如果儀器校正有偏差，用十字螺絲刀伸入儀器左側(cè)面QC標(biāo)簽下的精度調(diào)節(jié)孔，旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)精度。 
 
不要接觸探測(cè)頭，防止灰塵、油漆、液體等物體進(jìn)入探測(cè)頭。可用棉簽，潔凈軟抹布和酒精清潔探測(cè)頭。 
 
注意！清潔探測(cè)頭星型葉片時(shí)需非常小心，用力過(guò)大會(huì)造成葉片失去平衡，造成測(cè)量誤差或損壞。